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電子產(chǎn)品溫度老化測試高低溫試驗(yàn)箱

簡要描述：

電子產(chǎn)品溫度老化測試高低溫試驗(yàn)箱，是根據(jù)不同的需求而定的，溫度和規(guī)格尺寸，決定了該系列高低溫試驗(yàn)箱的不同價(jià)格，詳細(xì)的高低溫試驗(yàn)箱價(jià)格，我司市場部查詢。

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詳細(xì)介紹

電子產(chǎn)品溫度老化測試高低溫試驗(yàn)箱

一、高低溫的用途

該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

電子產(chǎn)品溫度老化測試高低溫試驗(yàn)箱

二、高低溫箱設(shè)備的主要技術(shù)指標(biāo)

1 、溫度范圍：-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃～+100（150）℃

高低溫交變試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品規(guī)格
型號(hào):K-80T 內(nèi)型尺寸:D×W×H 400×500×400
型號(hào):K-150T 內(nèi)型尺寸:D×W×H 500×600×500
型號(hào):K-225T 內(nèi)型尺寸:D×W×H 500×750×600
型號(hào):K-408T 內(nèi)型尺寸:D×W×H 600×850×800
型號(hào):K-800T 內(nèi)型尺寸:D×W×H1000×1000×800
型號(hào):K-1000T內(nèi)型尺寸: D×W×H1000×1000×1000

參照標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.5-2008 濕熱試驗(yàn)設(shè)備方法
GB/T10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B 高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.3-2006試驗(yàn)Ca 恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.4-2008試驗(yàn)Db 交變濕熱試驗(yàn)方法